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硅片缺陷观测仪 硅片位错层错检测仪 硅片划痕崩边测定仪

硅片缺陷观测仪 硅片位错层错检测仪 硅片划痕崩边测定仪

简要描述:硅片缺陷观测仪于对硅片的缺陷进行观察,效果非常明显,包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。
实时对图像进行分析、测量和统计,提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备,能更好的观测和保存研究结果;

产品型号: JC06-WDI

所属分类:·在线检测产品

更新时间:2021-06-30

详细说明:

硅片缺陷观测仪 硅片位错层错检测仪 硅片划痕崩边测定仪

型号JC06-WDI

硅片缺陷观测仪于对硅片的缺陷进行观察,效果非常明显,包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等。

实时对图像进行分析、测量和统计,提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备,能更好的观测和保存研究结果;

硅片缺陷观测仪-产品特点

适用于对硅片的缺陷观察效果,非常明显,包括肉眼无法观测的位错、层错、划痕、崩边等;

使硅片缺陷观察工作简单化,准确化,同时极大程度降低此项工作强度;

实时对图像进行分析、测量和统计,提高传统光学仪器的使用内涵。配合投影仪和计算机等显示、存储设备,能更好的观测和保存研究结果;

使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有体积小,技术,像素较高, 成像清晰 、线条细腻、色彩丰富;

传输接口为 USB2.0 高速接口, 软件模块化设计 ;

有效分辨率为 200 万像素;

所配软件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系统。

 

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北京北信未来电子科技中心

    :刘华

www.lcs168.com   :1226234756



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