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单晶少子寿命测试仪 硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪

单晶少子寿命测试仪 硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪

简要描述:该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命;
测试单晶电阻率范围:>0.3Ω.cm;
可测单晶少子寿命范围:1μS-10000μS;
配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;

产品型号: JC03-LT-3

所属分类:·工业分析仪器

更新时间:2021-07-01

详细说明:

单晶少子寿命测试仪 硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪

型号JC03-LT-3

特点:

该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命;

测试单晶电阻率范围:>0.3Ω.cm;

可测单晶少子寿命范围:1μS-10000μS;

配备光源类型:红外光源,波长:1.09μm;

余辉<1μS;闪光频率为:20-30次/秒;

前置放大器:放大倍数约25;

测量方式:采用对标准曲线读数方式;

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北京北信未来电子科技中心

    :刘华

www.lcs168.com   :1226234756



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