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方块电阻测试仪 导体材料导电薄膜电阻检测仪 半导体薄层电阻测定仪 表面电阻测量仪方块电阻量值检测仪

方块电阻测试仪 导体材料导电薄膜电阻检测仪 半导体薄层电阻测定仪 表面电阻测量仪方块电阻量值检测仪

简要描述:DL10-ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

产品型号: DL10-ST-21

所属分类:·电阻系列

更新时间:2021-07-01

详细说明:

方块电阻测试仪 导体材料导电薄膜电阻检测仪 半导体薄层电阻测定仪 表面电阻测量仪方块电阻量值检测仪

型号DL10-ST-21

DL10-ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

特点:

1采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;

2以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;

3采用单个电池供电,带电池欠压指示;

4体积≤175mmX90mmX42mm,重量≤300g;

5特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

6探头带抗静电模块

技术指标:

测量范围按方块电阻量值大小分为二个量程档:

1.方块电阻1.00~199.99Ω/□;

2.方块电阻10.0~1999.9Ω/□;

恒流源测量过程误差:≤±0.8%

模数转换器量程:0~199.99mv;

分辨率:10μv;

方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;

测量不确定度在整个量程范围内,测量不确定度≤5%

四探针探头规格间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ

电源9V叠层电池1节

 

 

DL10-ST-21方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格:

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直线

HP-502

0.75mm

100g

3.8mm

直线

HP-503

0.1mm

150g

1mm

直线

HP-504

0.5mm

100g

1.59mm

直线

DL10-ST-21方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格:

型号
(Model)

曲率半径
(Radius)

压力
(loads)

探针间距
(spacing)

探针排列
(Arrangement)

SP-601

0.5mm

100g

1.59mm

方形

 

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北京北信未来电子科技中心

    :刘华

www.lcs168.com   :1226234756



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