• BX-Y1243A200A综合型液晶电压降测试仪
    BX-Y1243A200A综合型液晶电压降测试仪

    200A综合型液晶电压降测试仪用于电线束、插接器、开关触点、继电器、汽车开关等相关产品之接触电阻、温升、电压降或负载测量,同时也适用于具有类似特性产品使用.

    时间:2023-07-18型号:BX-Y1243A
  • BX-Y1243B300A综合型液晶电压降测试仪
    BX-Y1243B300A综合型液晶电压降测试仪

    300A综合型液晶电压降测试仪用于电线束、插接器、开关触点、继电器、汽车开关等相关产品之接触电阻、温升、电压降或负载测量,同时也适用于具有类似特性产品使用.

    时间:2023-07-18型号:BX-Y1243B
  • BX-Y1245200高温四探针双电组合电阻率测试仪
    BX-Y1245200高温四探针双电组合电阻率测试仪

    200高温四探针双电组合电阻率测试仪用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据. 双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。

    时间:2023-07-18型号:BX-Y1245
  • BX-Y1245A400高温四探针双电组合电阻率测试仪
    BX-Y1245A400高温四探针双电组合电阻率测试仪

    400高温四探针双电组合电阻率测试仪用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据. 双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。

    时间:2023-07-18型号:BX-Y1245A
  • BX-Y1245B600高温四探针双电组合电阻率测试仪
    BX-Y1245B600高温四探针双电组合电阻率测试仪

    600高温四探针双电组合电阻率测试仪用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据. 双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。

    时间:2023-07-18型号:BX-Y1245B
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