超声波测厚仪（AB扫）

简要描述：超声波测厚仪（AB扫）是来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

产品型号： BX-G1704

所属分类：测厚仪

更新时间：2023-12-22

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